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技術(shù)文章

解決方案 | A550硅油涂布檢測儀,為膠粘/薄膜涂布材料質(zhì)量保駕護航

發(fā)布時間:2024-12-4

佳譜儀器JPSPEC
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準(zhǔn)確獲得紙張、薄膜和離型膜上有機硅涂層的厚度和質(zhì)量至關(guān)重要。我司自主研發(fā)的A550硅油涂布檢測儀既可以分析PET薄膜,還可以分析格拉辛、淋膜紙及牛皮紙等多種硅油涂布量。






JPSPEC

A550硅油涂布檢測儀





A550硅油涂布檢測儀具有檢測速度快,測試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高等優(yōu)點,儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測器,分辨率能夠達到 125eV, 能分辨 Al( 鋁 ) 元素和 Si( 硅 ) 元素。可廣泛應(yīng)用于硅油涂布行業(yè)產(chǎn)品工藝及成本的管理,通過驗證上游基礎(chǔ)材料的可靠性、避免存在產(chǎn)品不合格的情況,從而有效避免了因產(chǎn)品次等問題所帶來的對企業(yè)品牌價值的影響。

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原理

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其原理是通過軟件程序控制,讓 X 射線發(fā)生路產(chǎn)生適合的 X 射線去激發(fā)測試薄膜材料中的 Si 或者其他元素,被 X 射線激發(fā)后變?yōu)椴环€(wěn)定態(tài),高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能量被探測器接收,因每個元素都有自已特定的能量特征線,通過探測器的識別,計算機軟件的計算,即可準(zhǔn)確識別該元素,并計算出含量。




技術(shù)特點
  • 測試采用X射線熒光光譜原理,測試過程無需耗材

  • 配置高清液晶顯示器,測試過程和測試結(jié)果一目了然

  • 光管垂直照射,硅元素性能得到更強激發(fā)

  • 設(shè)備集成多個 usb 接口,數(shù)據(jù)和通訊傳輸滿足多種要求

  • 測試下限好,可準(zhǔn)確測量0.01g/m的涂硅量

  • 空氣光路內(nèi)部環(huán)境得到顯著優(yōu)化,大氣環(huán)境一樣可以直接測試

  • 采用大面積硅漂移探測器,測試結(jié)果極其準(zhǔn)確

  • 一鍵測試/操作簡單智能,測試過程使用時間更短,結(jié)果更準(zhǔn)確

  • 快速采用新的模型算法,大大提高了輕元素的測量穩(wěn)定性


應(yīng)用領(lǐng)域
  • 各種薄膜、淋膜、離型膜等

  • 硅油涂布量的測定

  • 各種薄膜生產(chǎn)過程中

  • Si/Al元素等比量的測定

  • 電子產(chǎn)品保護膜

  • 硅油殘余量的測定

  • 電子產(chǎn)品硫化物的殘留量的測定



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