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　　【適用范圍】

　　無錫冠亞AES系列高低溫沖擊系統測試儀適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

　　【工作原理】

　　1、高低溫沖擊系統測試儀試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發生劇烈變化，從而完成相應的高低溫沖擊試驗；

　　2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件，將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統冷熱沖擊試驗箱相比，溫變變化沖擊速率更快。

　　【選購要點】

　　選購冷熱沖擊試驗箱要注意五個方面：沖擊溫度、試驗負載、復歸時間、除霜時間、放置位置。

　　沖擊溫度：是指測試區實際能夠跑到的溫度 范圍。注意不是預熱和預冷室的溫度；

　　試驗負載：直接影響能夠放置多少測試品。一般說來，這個重量越大越好；

　　復歸時間：它是指測試品全部從一個溫度點切換到另外一個溫度點所耗費的時間；

　　除霜間隔時間越長越好?，F在有些廠家能夠做到1000cycles除霜一次，是非常適合的。除霜間隔越短說明該設備的氣密性越差；

sensor必須放置在測試區內部。有些廠家將sensor放置在風道內部，雖然與測試區只有10cm的距離，但是這個能量差異是相當大的。且不能夠真實反映測試品表面的溫度變化。