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　　ICP-OES等離子體發射光譜儀是將成分復雜的光分解為光譜線的科學儀器，由棱鏡或衍射光柵等構成，利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。

　　光譜儀使傳統的光譜技術發生了根本的改變，改善了工作條件，提高了工作效率，測量準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出，被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。

　　光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成，包括以下幾個主要部分：

　　1. 入射狹縫：在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。

　　2. 準直元件：使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

　　3. 色散元件：通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。

　　4. 聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。

　　5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

　　ICP-OES等離子體發射光譜儀具備良好的分辨能力；防溢出背照式百萬像素CCD檢測器，紫外響應高，無紫外熒光膜，使用壽命長；多種背景校正技術可供選擇，穩定的質量流量氬氣集成控制系統；可視化的安全聯鎖和運行監控，采用可拆卸炬管，內置自動化的炬管準直、光源優化功能，層次化的軟件界面，操作直觀、便捷，可滿足不同客戶的使用需求；豐富的方法庫和版本化的管理方式更利于方法的傳承、學習和維護。

　　應用領域：高校、質檢中心、環境監測站、企業、農業系統、地質地礦、環境保護、地質冶金、電子電器、食品安全、化工制藥等，近年來在垃圾發電、固廢處理等行業應用越來越廣泛。