熒光X射線分析裝置

來源： 2007年01月29日 14:48

申請人：理學電機工業株式會社
摘要：本發明的課題在于提供一種進行氦置換的熒光X射線分析裝置，容易更換試樣室和照射室之間的隔壁膜，在分析時，試樣室的空氣不流入照射室。第1支架（21）按照其窗（21a）與試樣室（3）和照射室（8）之間的壁部（4）的窗（4a）重合的方式氣密地安裝于壁部（4）上，按照覆蓋第1支架的窗（21a）的方式設置隔壁膜（9）。第2支架（23）按照其窗（23a）夾持隔壁膜（9），與第1支架的窗（21a）重合的方式設置。另外，支架（21，23）中的其中一個為*磁鐵，另一個由吸附于其上的材料形成，支架（21，23）夾持隔壁膜（9）的周邊部，并且第2支架（23）可相對第1支架（21）而裝卸。

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