雙折射儀能精確測定光學波片的光程差、確定光學玻璃的應力級別，是光學儀器制造業不可缺少的儀器，也是研究晶體礦物質的重要工具，廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質量分析和控制領域。

    儀器是用來檢查透明物體內應力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學玻璃、光學儀器、玻璃制品、塑料制品等工業得到廣泛應用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標的檢驗方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質礦產、材料科學領域也有不少應用。同時，本儀器也是各大專院校特別理想的教學實驗設備。

    一般的光學材料都是均勻的各向同性的，也就是說無論光從哪個方向穿過材料，其折射率都保持一致。對于單軸材料來說，例如方解石 ，其晶軸定義了材料的對稱軸。這類材料對光線的偏折能力隨入射光的偏振態及入射光與晶軸的夾角不同而不同。因此對于任意一束光，兩個正交的偏振態下可能存在不同的折射角。這種現象稱為光的雙折射。

    雙折射儀系統特點：

    1、操作簡單/快速測定：獨特的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布。

    2、2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。

    3、大相位差測試能力：通過對三組不同波長的測量數據進行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。