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技術指標 1. 測試范圍:0.1-1000μm 2. 進樣方式:干法進樣兼濕法進樣 3. 重復性誤差:<3% 4. 測試時間:1-2分鐘 5. 獨立探測單元數:54 6. 光源:He-Ne激光器,功率2mW,波長0.6328μm 7. 工作環境:溫度:5-35℃,濕度:<85%
產品特點 1. 采用了歐美克專有的兩項,測量精度高。 2. 全量程測量,勿需更換鏡頭,使用更方便。 3. 探測器自動對中、針孔防震設計。 4. 干法進樣器與主機一體化設計,干濕法切換極為方便,濕法循環進樣系統內置超聲。 5. 具有遮光比自動限制功能。測量前預設遮光比可調范圍,儀器可自動剔除不在預設遮光比范圍的測試結果,提高測量精度。 6. 除了主探測器和輔助探測器外,增加了大角探測器,使測量有效下限達到0.1μm。
LS-C(III)型干濕二合一激光粒度分析儀 功能用途 既可測量不能在液體中分散須在氣體中分散的粉體材料,也可測量須在液體中分散的樣品。 工作原理 利用顆粒對光的散射現象,根據散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。
激光粒度儀
激光納米粒度分析儀
納米粒度分析儀
納米激光粒度儀
納米粒度儀
JGF-1000H型 高精度激光光軸校準儀
激光粒度儀在超聲條件下對測試結果的影響
激光粒度儀的技術發展包括光路系統的設計與優化
影響激光粒度儀的技術性能指標
理論與實踐相結合的光相關納米激光粒度儀
通過激光粒度儀準確獲得粒度分布的原理
NKT5100-H濕法激光粒度儀
NKT5200-H濕法激光粒度儀
應力檢測儀
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