X射線由Mo靶或W靶產生,在Ni/C人工多層膜上反射并單色化。扁平的光束以非常小的角度(0.3 – 0.6 °)掠射裝有樣品的樣品架,并產生全反射。樣品所產生的特征熒光被能量色散探測器(XFlash® detector) 探測,強度通過偶合的多通道分析器測量。
與常規的XRFzui大的不同,全反射熒光(TXRF)是使用了單色光和全反射光學部件。以全反射光束照射樣品,降低了吸收、以及樣品及襯底材料對光的散射。結果是大大降低了背景噪音,因此有高的多的靈敏度和明顯地降低了基體效應。
鉑悅儀器自2004年成立以來,憑借與世界各大儀器的戰略合作關系,以及不斷優化公司自身經營管理,提高服務質量,成為中國國內的儀器供應商。鉑悅儀器所提供的產品均屬于高科技行業,產品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產設備,以及配套的耗材和配件,這些產品廣泛應用于半導體、工業、太陽能、醫藥、醫療器械、生物、能源、電子、石化等各個領域并服務于各大院校、研究所、檢測機構、及政府部門等。
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鉑悅儀器的總公司設立在上海,并在北京、廣州、成都、沈陽、西安、青島、武漢、廈門、香港、加拿大設立了辦事處,在能及時引進*進技術的同時,保證了鉑悅儀器能快速、有效的為全國各地的客戶提供良好的服務。
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X射線熒光光譜分析法(XRF)的原理:原子受原級X射線激發后,發出次級X射線熒光。因此,XRF 分析法可以:
? 根據熒光的波長和能量,確定元素;
? 各元素的濃度可根據熒光的強度進行計算。
全反射X射線熒光光譜儀 產品信息