X-4 顯微熔點儀

X-4 顯微熔點儀產品介紹

測定物質的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

X-4 技術參數
熔點測量范圍：室溫至320℃ 
測量重復性：±1℃ （在＜200℃ 時）
                     ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時） 
溫度顯示zui小值： 1℃

熔點觀察方式 單目顯微鏡 

光學放大倍數 40× 

我公司鄭重承諾：

1.凡我公司出售的所有產品保修期為一年，在保修期內產品市區免費上門維修（人為因素或不可抗拒的自然現象所引起的故障或破壞除外），省外用戶視情況，協商解決。
2. 在接到報修通知后，一個小時內作出回應，二十四小時內定出維修解決方案，七個工作日解決問題。
3. 用戶可以通過售后咨詢有關技術問題，并得到明確的解決方案。

4. 用戶在正常使用中出現性能故障時，本公司承諾以上保修服務。除此以外，國家適用法律法規另有明確規定的，本公司將遵照相關法律法規執行。
5. 在保修期內，以下情況將實行有償維修服務：
（1）由于人為或不可抗拒的自然現象而發生的損壞;
（2）由于操作不當而造成的故障或損壞;
（3）由于對產品的改造、分解、組裝而發生的故障或損壞。

禾普(HEB)愿與你攜手打造精細的實驗儀器產品。