鎢燈絲掃描電子顯微鏡革命性的Beamsleeve的設計,確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像,同時還可以進行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標準的高效率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換和無污染(免維護)成像分析。
產品應用:
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。
產品特點:能在可變壓力下操作
*X射線和EBSD分析
可移動大平臺
快抽真空
未來的保證,可升級在高壓和水蒸氣下成像和分析
高亮度LaB6資源選擇
光線套選擇
鎢燈絲掃描電子顯微鏡技術參數:
分辨率:3.0nm@ 30KV(SE and W) 4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓:0.2—30KV
放大倍數:5—1000000x
探針電流:0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離:8.5mm 35度接收角
壓力范圍:10—400Pa (LS15:環掃模式10-3000Pa)
工作室:365mm(φ)×275mm(h)
5軸優中心自動樣品臺:X=125mm Y=125mm Z=50mm T=0-90°R=360°
大試樣高度:145mm,大試樣直徑:250mm
系統控制:基于Windows XP 的SmartSEM操作系統