Phenom Particle Metric顆粒測試
Phenom World BV 顆粒測試系統Phenom Particle Metric
—— 研究顆粒和粉末的強大工具
ParticleMetric顆粒測試系統，以快、簡便的方式實現顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術的一大進步。快速、易用和超清晰圖像質量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。
基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案ParticleMetric能夠使用戶根據需要，隨時獲取所觀測顆粒的面積、當量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比、充實度、伸長率、灰度等級、長軸、短軸長度（橢圓）、凸殼體、重心、像素點數、凸狀物等數據，終實現ParticleMetric加速顆粒物分析速度、提升產品質量的目的。
Phenom Particle Metric顆粒測試的功能
1. 可進行以下顆粒分析
l 顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm
l 顆粒探測速度：高達1000個/分鐘
l 顆粒測量屬性：大小、形狀、數量
2. 可以測量的顆粒參數
l 面積、當量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比
l 充實度、伸長率、灰度等級、長軸長度和短軸長度（橢圓）
l 凸殼體、重心、像素點數、凸狀物。
3. 可以提供的圖形顯示
l 按數量或體積的線性、對數、雙對數點狀圖
l 任何參數的散點圖
l 單個顆粒的SEM圖像
4. 可以提供的圖形輸出
l Word版本docx格式的報告，TIFF格式的圖像
l CSV文件，離線分析的項目文件（.PAME）Pro Suite的一部分
飛納掃描電鏡顆粒系統ParticleMetric軟件的優勢
1. 加載ParticleMetric軟件的飛納臺式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶采集超細顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數據；
2. 全自動的飛納掃描電鏡顆粒測試系統ParticleMetric軟件測量可以實現超出光學顯微鏡、更好景深的視覺效果，為用戶提供顆粒物的結構設計、研發和質量控制方面的細節數據；
3. ParticleMetric軟件生成的柱狀圖、散點圖可以作為報告的內容按照格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測顆粒的不同屬性，生成數量柱狀圖和體積柱狀圖。散點圖可以按照任何一項顆粒的特性生成，以便揭示相關趨勢。
4. 直接由Phenom獲取圖像，識別并確認諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒，關聯顆粒物的特征，比如直徑、充實度、縱橫比和凹凸度
5. 便捷的操作提升了工作效率并使計劃表簡單化和可視化
6. 無限制的圖像采集，可輕松存儲于網絡或優盤，便于共享、交流或以后參考
7. Phenom的易用性和對環境的良好適應力，用戶可以將試樣程度視覺化
8. 附有高清圖片的統計學數據。
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