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TESCAN超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡電子顯微鏡

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng)泰思肯貿(mào)易（上海）有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)
所在地上海市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/8/4 9:16:18
訪問(wèn)次數(shù)5107

產(chǎn)品標(biāo)簽:

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡價(jià)格場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡廠家

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

TESCAN是一家專(zhuān)注于微觀形貌、結(jié)構(gòu)和成分分析的科學(xué)儀器的跨國(guó)公司，是的電子顯微儀器制造商，總部位于大的電鏡制造基地-捷克布爾諾，且已建立起的銷(xiāo)售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)，在捷克、法國(guó)和美國(guó)擁有4家研發(fā)中心、2個(gè)生產(chǎn)基地以及6家海外子公司，已有超過(guò)60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史。其產(chǎn)品主要有電子顯微鏡、聚焦離子束系統(tǒng)、多通道全息顯微鏡及相關(guān)分析附件和軟件，正被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、生物、生化、農(nóng)業(yè)、材料科學(xué)、冶金、化學(xué)、石油、制藥、半導(dǎo)體和電子器件等領(lǐng)域中。

作為科學(xué)儀器的供應(yīng)商之一，TESCAN正為其在設(shè)計(jì)、研發(fā)和制造掃描電子顯微鏡及掃描電子顯微鏡在不同領(lǐng)域的應(yīng)用方面樹(shù)立良好的聲譽(yù)和品牌。目前TESCAN的產(chǎn)品和解決方案已經(jīng)在微納米技術(shù)領(lǐng)域取得了一定地位，掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術(shù)、聚焦離子束與飛行時(shí)間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術(shù)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù)，也是行業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)*。TESCAN憑借優(yōu)異的性能贏得*越來(lái)越多的用戶(hù)認(rèn)可，目前生產(chǎn)的各系列電鏡在世界范圍內(nèi)受到廣泛的好評(píng)。從2000年至今已有2500多臺(tái)電鏡積極地服務(wù)于客戶(hù)。

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掃描電鏡，熒光顯微鏡，電鏡耗材

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產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	產(chǎn)品新舊	全新

TESCAN超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡，在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。MAIA3 model 2016在低電壓下也有*的性能，尤其對(duì)電子束敏感的半導(dǎo)體器件樣品以及納米材料等都具有優(yōu)異的表面靈敏度及高空間分辨率。全新的MAIA3也非常適合研究不導(dǎo)電試樣如原始狀態(tài)的生物樣品。

TESCAN超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡電子顯微鏡產(chǎn)品信息

TESCAN超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

主要特點(diǎn)：

TriglavTM——新開(kāi)發(fā)的超高分辨電子光學(xué)鏡筒并配備TriLensTM物鏡及*的探測(cè)系統(tǒng)

超高分辨率物鏡（60度浸沒(méi)式物鏡），全新的用于高分辨率分析工作的無(wú)漏磁分析物鏡，重新設(shè)計(jì)用于超大視場(chǎng)觀察的中間鏡。

*的電子束無(wú)交叉模式與超高分辨率物鏡相結(jié)合，獲得了的成像性能

傳統(tǒng)的TESCAN大視野光路設(shè)計(jì)提供各種工作和顯示模式

全新的EquiPower™技術(shù)進(jìn)一步提高電子束的穩(wěn)定性

新的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍能使電子束流高達(dá)400nA并能實(shí)現(xiàn)電子束能量的快速改變

通過(guò)擴(kuò)展樣品室和支架能達(dá)到12”晶圓的SEM觀察

TriBETM技術(shù)具有三個(gè)BSE探測(cè)器，可以選擇不同角度的信號(hào)進(jìn)行采集。位于鏡筒內(nèi)部的Mid-Ange BSE和In-Beam LE-BSE探測(cè)器，用于檢測(cè)中等角度及軸向的高角背散射電子，而樣品室的BSE探測(cè)器用于探測(cè)大角度范圍的背散射電子。并且這三個(gè)探測(cè)器能探測(cè)到低于200eV的低能背散射信號(hào)，綜合在一起，他們可以提供各種不同襯度的圖像

TriSETM技術(shù)具有三個(gè)SE探測(cè)器，對(duì)所有工作模式下采集二次電子信號(hào)都進(jìn)行了優(yōu)化。位于鏡筒內(nèi)部的In-Beam SE探測(cè)器能在短工作距離下采集二次電子。用于電子束減速模式下的SE(BDM)探測(cè)器用于超高分辨成像。In-Chamber SE探測(cè)器能提供形貌襯度

電子束減速技術(shù)(BDT)能在低至50eV的低電壓下，也仍具有出色的分辨率（選配）

TESCAN超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡電子束實(shí)時(shí)追蹤技術(shù)可對(duì)電子束實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)優(yōu)化

擴(kuò)展的低真空模式樣品室氣壓能達(dá)到500Pa，可用于不導(dǎo)電樣品的成像

超高分辨率 0.7@15keV，1.0nm@1keV

浸沒(méi)式物鏡系統(tǒng)和無(wú)交叉電子束模式結(jié)合在一起，可在低能量下實(shí)現(xiàn)超高分辨成像。浸沒(méi)式物鏡能在樣品周?chē)a(chǎn)生強(qiáng)磁場(chǎng)，顯著降低了像差。而無(wú)交叉電子束模式則降低了Boersch效應(yīng)，對(duì)電子束進(jìn)行進(jìn)一步的優(yōu)化，終達(dá)到1.0nm @1keV的超高分辨率。