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光學薄膜/光阻測量儀 測距儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱蘇州倍瑟電子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2023/8/22 9:58:24
  • 訪問次數815
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蘇州倍瑟電子科技有限公司成立于2008年7月, 為倍瑟電子(香港)有限公司全資子公司。成立伊始,公司致力于半導體和表面貼裝電子行業檢測設備的銷售和服務;倍瑟電子以*的技術為先導,優秀的服務 為基礎,為客戶提供完善的電子裝配生產和檢測解決方案。
數碼顯微鏡
■通過分析光如何從薄膜反射來測量薄膜厚度
光學薄膜/光阻測量儀 測距儀 產品信息

通過分析光如何從薄膜反射來測量薄膜厚度。通過分析肉眼看不見的光譜我們能測量幾乎所有超過100原子厚度的非金屬薄膜。因為不涉及任何移動設備,幾秒鐘之內就能測出:薄膜厚度,折射率,甚至粗燥度!

為工業界的精英們測量薄膜厚度。 在低價位膜厚測量應用上我們的測量系統有的占有率。 事實上我們Filmetrics是能夠提供滿足幾乎所有膜厚測量需求的產品。

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