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P400噴霧激光粒度分析儀適用于高校、研究院所、質量檢驗、醫療霧化器、霧化藥品、各種氣霧劑、噴霧劑等小型噴霧設備的霧滴檢測。尤其適用于國家藥典中對吸入型氣霧劑、...

zmx300粒度粒形分析儀是可以用來做粒度分析,軟件將顯微鏡攝像機拍攝的照片進行處理,然后對圖片中的顆粒進行抓取并做粒度分析,自動得到顆粒的粒度分布曲線.操作使...

WALLISζ是一種創新的zeta電位測試儀，專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現代版激光多普勒電泳（LDE）技術，提供十分*的測量分辨率。它是Cor...

ZML-310型外用制劑粒度儀是采用顯微鏡圖像法測試粒徑大小、顆粒形狀及顆粒顏色的顆粒分析系統。設備由顯微鏡、高分辨率數字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。廣...

ZML-310型外用制劑粒度儀是采用顯微鏡圖像法測試粒徑大小、顆粒形狀及顆粒顏色的顆粒分析系統。設備由顯微鏡、高分辨率數字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。廣...

ZML-310型外用制劑粒度儀是采用顯微鏡圖像法測試粒徑大小、顆粒形狀及顆粒顏色的顆粒分析系統。設備由顯微鏡、高分辨率數字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。廣...

ZML-310型外用制劑粒度儀是采用顯微鏡圖像法測試粒徑大小、顆粒形狀及顆粒顏色的顆粒分析系統。設備由顯微鏡、高分辨率數字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。廣...

梓夢科技納米粒度儀 電位儀原理當激光照射到分散于液體介質中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導致散射光信號隨時間發生動態變化，該變化的大小與...

梓夢科技動態光散射納米粒度和zeta電位儀原理當激光照射到分散于液體介質中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導致散射光信號隨時間發生動態變化...

納米粒度及zeta電位儀的密度高或粒徑大的顆粒會沉積在測量室底部。采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。

ZML-310型透皮乳膏粒度儀是通過用高分辨率數字攝像機和光學顯微鏡，將顆粒圖像拍攝下來并傳輸到計算機中，用我們的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析，并通過顯示...

電聲法zeta電位分析儀美國分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學儀器業務。 DTI開發的基于超聲法原理的儀器主要應用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布...

WALLISζ是一種創新的zeta電位儀，專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現代版激光多普勒電泳（LDE）技術，提供*且十分*的測量分辨率。它是Cor...

Spraylink超高速實時噴霧粒度分析儀專為應對這些挑戰而設計，以實現對高速噴霧粒度分析儀進行準確的分析。

VASCO納米粒度分析儀是基于增強型動態光散射（DLS）技術的納米級懸浮和膠體特性的儀器。得益于與法國Institute of Petroleum（IFP）合作...

貝克曼庫爾特LS 13 320系列微納米激光粒度分析儀應用顆粒光散射原理,據光學理論推算顆粒粒度分布,主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析。

上海梓夢科技有限公司代理的法國CAD公司生產的流動電位法zeta電位分析儀,ZetaCAD;是用多孔塞技術直接測定流動電位/流動電流的Zeta電位分析儀.該技術...

zmx300粒度粒形分析儀是可以用來做粒度分析,軟件將顯微鏡攝像機拍攝的照片進行處理,然后對圖片中的顆粒進行抓取并做粒度分析,自動得到顆粒的粒度分布曲線.操作使...

ZML-310型透皮乳膏粒度晶型分析儀是通過用高分辨率數字攝像機和光學顯微鏡，將顆粒圖像拍攝下來并傳輸到計算機中，用我們的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析，并...

zeta電位分析儀-顯微成像法的密度高或粒徑大的顆粒會沉積在測量室底部。ZetaCompact®采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面...