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HAST高加速老化測試系統，高加速應力測試（HAST）結合了高溫、高濕度、高壓和時間，以測量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳...

PCB-HAST絕緣電阻劣化系統高加速壽命老化，評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經過長時間的測試（1...

Bias-HAST高加速老化 偏壓老化測試系統，評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經過長時間的測試（1...

CAF-HAST絕緣電阻劣化系統高加速壽命老化，是一種可信賴性的試驗設備，原理是印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路...

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微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統是一種用于評估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏...