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WGL-4 氦氖激光器系列實驗儀器介紹通過氦氖激光器的裝調，改變諧振腔的長度，觀察激光模式的變化，來培養學生實驗的動手能力。使用共焦球面掃描干涉儀，讓學生較直觀...

WGL-5 半導體激光器實驗系列儀器介紹通過測量半導體激光器的功率，電壓和電流，讓學生了解半導體激光器在連續輸出下的工作特性。用WGD-6光學多道分析器觀測，半...

WGL-6 氦氖激光器模式分析實驗裝置在激光器的生產與應用中，我們通常需要先知道激光器的模式狀況，如精密測量、全息技術等工作需要基橫模輸出的激光器，而激光器穩頻...

WGL-3 脈沖調Q Nd：YAG倍頻激光器實驗裝置該實驗系統讓學生通過自己動手裝調激光器，掌握激光器的基本結構、主要參數、輸出特性、調整方法、以及調Q、選模、...

WGL-8晶體電光調制實驗儀由電場所引起的晶體折射率的變化，稱為電光效應．通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應原理的激光振幅調制器的使用，掌握晶體電光調制...

SGD-2 單光子計數實驗系統該實驗系統，由單光子計數器，半導體制冷系統，外光路光學系統，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統采用了脈沖高度甄別計數和數字計數技術...

XGS-1 電子散斑干涉實驗系統電子散斑干涉（ESPI）實驗系統借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉...

XGS-2 激光散斑照相實驗裝置利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變，距離，速度測試，物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的...

XGS-3 電子及激光散斑實驗系統本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變、應力場測試...

HNL-55700多束光纖激光源采用550mm功率激光管和進口高傳輸性光纖，通過精密光學分束機構分至七束光纖，每束光纖長度為4米，ZUI多為七臺邁氏干涉儀提供擴...

SLJ-1雙棱鏡干涉實驗儀導軌：鋁制導軌，長1000mm光源：半導體激光器，鈉燈或白光光源可選狹縫：0-2mm可調，帶二維調節測微目鏡：放大率15倍，測量范圍8...

WPZ-III塞曼效應實驗儀（智能型）1、永磁鐵磁感應強度B＞1.0T，以實際測定為準2、F-P標準具通光口徑φ40mm空氣隙石英間隙2 mm中心波長546.1...

WGZ-IIA光強分布測定儀單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定；小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗；偏振光實...

JCD3讀數顯微鏡產品簡介可作長度測量，也可作觀察使用。可置水平和垂直位置，能搭成各種測試裝置。產品配置主要技術指標要求：1、顯微鏡放大倍率為30倍，工作距離5...

WSM100/200邁克爾遜干涉儀產品簡介觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測定單色光波長，測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統觀察...

JJY-CCD分光示教儀CCD類型: 1/3 Sony 80H CCD Sensor總像素: PAL: 1020H×596V （80萬像） NTSC:...

JJ1-D大口徑分光計利用反射、折射、衍射和干涉原理在各種實驗中做角度測量。主要技術指標要求：1、儀器的測角精度為1′；2、平行光管、望遠鏡系統的焦距為170m...

JJY1分光計產品簡是一種分光測角光學實驗儀器，在利用光的反射、折射、衍射、干涉和偏振原理的各項實驗中作角度測量。配置原廠全套附件（三棱鏡、300線光柵連座、手...

儀器介紹SGP-2A型手動偏振光實驗系統是一種非聯機使用的偏振光實驗器，學生可以通過手動節實驗內容1、反射和折射起偏振，二向色性起偏振2、驗證馬呂斯定律3、測量...

SGP-1 偏振光實驗系統儀器介紹光的偏振態可以通過旋轉偏振片和波片的角度來操控，偏振片將自然光變成偏振光，波片可以改變光的偏振態。本實驗采用電機驅動偏振片和波...