XJP-405大平臺工業金相顯微鏡配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、平場無限遠長工作距離明暗場物鏡、大視野目鏡、圖像清晰，襯度好。是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的，作為高級工業顯微鏡使用。可進行明暗場觀察、落射偏光、DIC觀察，廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對硅片、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
技術參數

技術規格
觀察頭	30°鉸鏈式三目（50mm-75mm）
目鏡	WF10×/25mm
目鏡	WF10×/20mm,帶0.1mm十字分劃板
轉換器	帶DIC插孔明暗場五孔轉換器
物鏡	平場無限遠長工作距離明暗場物鏡：5×/0.1B.D/W.D.29.4mm 10×/0.25B.D/W.D.16mm 20×/0.40B.D/W.D.10.6mm 40×/0.60B.D/W.D.5.4mm
平臺	雙層移動平臺
	平臺尺寸: 350mm×310mm
	移動范圍：250mm×250mm
濾色片	插板式濾色片（綠、藍、中性）
調焦	粗、微動同軸調焦，采用齒輪齒條傳動機構微動格值0.002mm
光源	落射照明：帶孔徑光欄和視場光欄，鹵素燈12V/100W，AC85V-230V亮度可調節
偏光裝置	檢偏鏡可360度轉動，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路
檢測工具	0.01mm測微尺
可供附件	目鏡：WF15×/17mm、WF20×/12.5mm
	130萬、200萬、300萬、500萬像素CMOS電子目鏡
	平場無限遠長工作距離明暗場物鏡:50×/0.55B.D/W.D.5.1mm、 80×/0.75B.D/W.D.4mm、100×/0.80B.D/W.D.3mm
	二維測量軟件
	專業金相圖像分析軟件
	DIC（10×、20×、40×、100×）
	攝影裝置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75×
	壓平機
	彩色1/3寸CCD 520條線

XJP-405大平臺工業金相顯微鏡特點說明
1．采用了UIS高分辨率、長工作距離無限光路校正系統的物鏡成像技術。
2．拓展了物鏡的復用技術，無限遠物鏡與所有觀察法相兼容包括明暗視野法、偏光法，并在每一
觀察法中均提供高清晰的圖像質量。
3．采用非球面Kohler照明，增加觀察亮度。
4． WF10X（Φ25）超大視野目鏡，長工作距離明暗場金相物鏡。
5．可插DIC微分干涉裝置的轉換器。

關鍵詞：金相顯微鏡顯微鏡