(頁面價格供參考，具體請聯系報價)

HAST高加速老化壽命試驗箱

試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能。

HAST高加速老化壽命試驗箱

特點

·高機能：采用驅動計測， 測試時焊接工序大幅減少

·軟件設計簡單明了，直觀易操作

·遠程監控功能，可監控試驗過程。

·便利性高：構造裝著脫落式、 易進行保養交換。可同時試驗停 止等聯動裝置功能，系統構成靈活。

·測試自檢功能：點檢、校正方便。

·設計精巧，不受場所限制，易移動。

·可靠性高：配有CF卡，以防設備故障數據丟失。以UPS作為系統的支撐，確保試驗的安全繼續進行。

HAST高加速老化壽命試驗箱

用于評估非氣密性封裝IC器件（固態設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度（偏壓）高加速應力壽命老化試驗。

應用領域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規級芯片