【制藥網 會員報道】HORIBA 科學儀器事業部隸屬 HORIBA 集團，致力于為用戶提供先進的檢測和分析儀器，包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質和XRF等分析儀器。
 

　　憑借旗下有名品牌的技術優勢，包括擁有200多年發展歷史的光譜制造技術Jobin Yvon，以及擁有獨特技術優勢的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等，如今HORIBA 科學儀器事業部的各種檢測分析儀器已經遍布全球各地，并在中國實現了銷售和服務的本土化，位于上海、北京、廣州三地的產品專家、售后服務團隊以及全國各地的代理商機構可充分保障國內用戶的技術咨詢以及售后服務需求。2022年6月13日，HORIBA 科學儀器事業部成為制藥網高級榜上有名會員，并享有該級別會員所享有的服務。
 

 

　　主營產品：科學儀器
 

　　推薦產品：HORIBA XGT-9000 X射線顯微分析儀
 

　　HORIBA XGT-9000 X射線顯微分析儀：運用強大的“快速分析模式"和“細節分析模式"，對外來物質分析，XGT-9000作為單一一臺儀器即能迅速完成篩查和形狀確認。
 

　　1、外來物質分析的新生解決方案
 

　　快速掃描結合圖像處理的顆粒增強技術讓外來物質分析非常容易。快速分析模式能夠迅速篩查外來物質，細節分析模式進一步確認外來物質的形狀。
 

　　2、快速、清晰、生動的元素分布成像
 

　　檢測時間的縮短和低背景元素分布分析成像大幅減少的總的分析時間
 

　　3、光學觀察系統和X射線束獨特的同軸設計確實保證了精確的微區分析
 

　　新設計的光學系統具備兩種照明方式—環狀照明和同軸照明。無論是鏡面樣品還是凸凹不平的樣品，通過這兩種照明方式都能進行清晰的觀察。細節攝像機可以調整工作焦距，像印刷電路板這樣具有很大高度差表面的樣品也能清晰地觀察。
 

　　4、多種分析模式
 

　　豐富的圖像處理手段能夠幫助獲得精確地元素分布信息。通過多重元素分布像的疊加可以輕松獲得共存元素及多種元素的分布圖像。
 

HORIBA XGT-9000 X射線顯微分析儀
 

　　推薦產品：HORIBA NANO Raman顯微共焦拉曼光譜
 

　　隨著掃描探針顯微鏡(SPM)在二十世紀八十年代的出現，大氣環境中的納米尺度成像成為了可能。該技術使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續的發展，然而如何實現納米尺度的的化學結構表征仍是一項挑戰。
 

　　拉曼光譜為分子結構和化學組分分析提供了有效的解決方案，廣泛應用于材料科學和生命科學領域。但是這種方法的空間分辨率在很大程度上受限于光學衍射限。
 

　　因此，將這兩種技術結合是富吸引力和挑戰性的，我們進入納米光學的世界。在該領域，HORIBA Scientific 通過幾十年的經驗積累和努力，開發了一套 HORIBA NANO Raman 的整體解決方案，使其成為一個通用且功能強大、使用簡便、快速可靠的分析工具。
 

　　一、重要特征
 

　　1、多種樣品分析平臺
 

　　高分辨樣品掃描器，掃描樣品面積從納米尺寸至樣品臺限
 

　　2、簡便易操作
 

　　全自動操作，大縮短了測試時間
 

　　3、真共聚焦
 

　　高空間分辨率，自動成像平臺，多種顯微鏡可視觀察系統
 

　　4、高靈敏度
 

　　多只有三面反射鏡，靈敏度和光通量得到大提高，提高設備穩定性
 

　　5、高光譜分辨率
 

　　多光柵自動切換，寬的光譜范圍用于拉曼和 PL 測試
 

　　6、納米尺度空間分辨率
 

　　通過針尖增加拉曼光譜 (TERS) 成像，實現 10nm 的空間分辨率
 

　　7、多種測試模式 / 多種環境
 

　　多種 SPM 模式，包括 AFM、導電 AFM、開爾文、STM 模式，可以子在液體和電化學環境下測試，通過 TERS 和 TEPL 技術，可同時獲得化學信息成像通過一臺電腦即可控制及使所有功能。另外，SPM和光譜儀也可以單獨控制使用
 

　　8、穩定性
 

　　采用新一代 50 KHz 高頻調制 SPM 掃描器，遠離生活噪聲，具有高信噪比和穩定性
 

　　9、靈活性
 

　　具有頂部、底部、側向等多個方向拉曼探測能力，滿足各方面應用研究需求
 

　　二、強有力的的物理、化學結構表征工具
 

　　1、HORIBA NANO Raman顯微共焦拉曼光譜功能強大
 

　　· 可同時進行 SPM 和拉曼光譜測試
 

　　· 頂部和側向均可使用高數值孔徑 ×100 物鏡，使得同區域測量能獲得更高的空間分辨率，針尖增強拉曼 (TERS) 具有高的信號收集效率
 

　　· 通過 SWIFT XS 和 EMCCD 探測器可以實現高通量信號收集能力和快速掃描速度
 

　　· 寬光譜范圍：從深紫外到近紅外
 

　　· 可選配 HORIBA 拉曼光譜儀系統以獲得高光譜性能
 

　　2、操作簡單、快速！
 

　　· 一鍵完成“懸臂梁 - 參考激光"對準及調諧頻率優化，無需手動調整
 

　　· 換針尖時無需移動樣品，換完針尖后還能很容易回到原來樣品位置
 

　　· 通過物鏡掃描器自動完成拉曼激光與 TERS 針尖耦合
 

　　· 通過一臺電腦即可完全控制
 

　　三、操作簡單的TERS系統
 

　　1、
 

　　穩定的 AFM-TERS 針尖
 

　　拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯成為一套系統，同Omni TM 型號的 TERS 探針，可同時獲取樣品表面形貌和 TERS 光譜。
 

　　HORIBA NanoRaman 系統結合 Omni TM 的 TERS 針尖提供了理想的增強方案。
 

　　· 適用不同方向的 TERS 耦合 : 頂部、側向和底部
 

　　· 多層結構：針尖優化小化的減少硅襯底中光譜干擾
 

　　· 惰性氣體包裝延長針尖的使用壽命
 

　　· 具有特殊保護層的 Ag 針尖能夠防止大氣環境下氧化
 

　　2、如何實現 TERS
 

　　在 TERS 系統，拉曼激光1聚焦到鍍有金或銀的針尖尖頭2，選擇合適的激發波長，在針尖十幾納米附近產生局域等離子體共振效應3，拉曼信號強度和局域電場成正比，增強的熱點和樣品接近就會大地增強樣品的拉曼信號，達到 105 或者 106 4。
 

　　3、什么是同區域成像
 

　　拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯成為一套系統，同區域成像測試是在同一個區域內同時或者連續獲得 AFM 圖和拉曼成像圖。
 

　　AFM 和其他的 SPM 技術如 STM, 音叉模式(正交力和剪切力)可以提供表面形貌，力學性能，熱學性能，電學和磁學性能以及分子分辨率測試，另一方面共焦拉曼光譜和成像提供材料的化學信息，受到空間分辨率的限制。
 

　　4、可驗證的 TERS 樣品
 

　　HORIBA 提供一系列的測試樣品包括單壁碳納米管和氧化石墨烯，適當的分散可以做 TERS 成像。樣品用來展示 AFM 的分子分辨率，通過 TERS成像展示 20 nm 的空間分辨率。
 

　　四、集成化軟件——一個軟件控制 HORIBA NANO Raman的數據采集
 

　　· 集成化軟件：一個軟件即可控制 HORIBA NANO Raman 整個平臺(包括單獨AFM、拉曼、光致發光、同區域成像測試和 TERS)
 

　　· 強大的 Labspec6 軟件：集成多變量分析模塊，一鍵完成PCA,MCR,HCA,DCA 分析
 

　　· Spec-top 成像模式：Spec-top為特有的輕敲模式，根據設置的步進輕敲樣品，這樣既保留了針尖的尖銳度，也提高了 TERS 信號的放大倍數。
 

　　· Dual-spec 模式：Dual-spec 可以同時獲得近場增強信號和遠場拉曼信號，基于差譜的方法扣除遠場拉曼信號，獲得高空間分辨率的 TERS 成像圖
 

　　多變量分析：全矩形掃描區域會消耗大量時間，可以在 AFM 圖上選擇不規則區域來做成像
 

　　· 曲線圖：力曲線測試反映材料的硬度或者吸附力分布，力學常數
 

HORIBA NANO Raman顯微共焦拉曼光譜
 

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